一、手持式礦石樣品分析儀測量范圍:
Mg,Al,Si,P,S,Cl,K,Ca,Sc,Ti,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn,As,Se,Rb,Sr,Zr,Nb,Mo,Pd,Ag,Cd,
Sn,Sb,Te,Cs,Ba,Hf,Ta,W,Re,Pt,Au,Hg,Pb,Bi,Th,U等。
測量礦種:各種金屬、非金屬、貴重金屬和稀有金屬礦例如:鐵礦、銅礦、鋅礦、鈦礦、釩礦、鉻礦、錳礦、鈷礦、鎳礦、鉛礦、鉬礦、鎂礦、鋁礦、銀礦、金礦、鉑礦、硫礦、砷礦、硒礦等
二、手持式礦石樣品分析儀主要應用
布魯克手持光譜儀主要分析礦體、礦塊、礦粉、礦渣、精礦、粗礦、尾礦;還可分析沉淀物、填料、土壤、泥土、泥漿;粉塵、灰塵、過(guò)濾物、薄膜層等。
三、手持式礦石樣品分析儀主要特性:
簡(jiǎn)體中文界面
Windows 5.0操作系統
開(kāi)機后不需校準就可直接測量
采用布魯克技術(shù)的XFlash®SDD檢測器
分析元素zui小從Mg開(kāi)始,達40多種。
分析范圍:ppm級至50%以上(與礦樣種類(lèi)有關(guān))
實(shí)時(shí)分析數據和圖譜顯示
XRF軟件具有定性、定量分析功能,控制光管的電壓和電流,使測量范圍更廣
測量*無(wú)損,不受樣品形狀限制
儀器自動(dòng)校準,自動(dòng)存儲測量數據,無(wú)需人工干預
主機一體化設計,高強度密封,防水、防塵,抗沖擊
可選擇一鍵式定時(shí)測量
內置Bruker專(zhuān)業(yè)操作軟件,計算和顯示速度快
儀器適應高溫,低溫,潮濕,雨天、沙塵等惡劣環(huán)境
在開(kāi)機狀態(tài)下長(cháng)時(shí)間不測量時(shí),儀器會(huì )自動(dòng)進(jìn)入待機狀態(tài),以節省電源和保護儀器
X射線(xiàn)管耐用性強,采用Peltier半導體恒溫制冷技術(shù)更增加了使用壽命
選配GPS定位系統,可精確定位礦體位置并繪制礦脈分布圖
萬(wàn)能FP模式,適于各種礦石樣品,大大縮短現場(chǎng)工作時(shí)間。自動(dòng)補償元素間干擾。
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